二手 JEOL JSM 6060LV #293654562 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6060LV
ID: 293654562
優質的: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) CE Marked 2008 vintage.
JEOL JSM 6060LV掃描電子顯微鏡(SEM)是一種最先進的儀器,旨在提供卓越的成像能力、無與倫比的靈活性和卓越的操作性能。高度先進的SEM以其高分辨率、低電壓性能、高吞吐量和先進的實時圖像優化提供卓越的性能。該系統能夠以超低真空技術和廣域深度捕捉納米級樣品的質量圖像。加速度電壓範圍從1 keV到30 keV,使用戶可以靈活地檢查細節程度和靈敏度不同的樣品。先進的標本內級傾斜可以旋轉到45°,使用戶能夠獲得納米級樣品的高度詳細的圖像。SEM提供了一種新的自動調諧功能,可自動調整操作參數,並針對圖像質量和樣本類型進行優化。此外,JEOL 「SmartStig」是一個獨特的功能,它可以即時調整汙名化和電臺設置。通過自動選擇最優化的設置,可以提高整體性能。SEM提供了一個強大的軟件套件來捕獲和分析圖像。利用JEOL 「ViewFlare」軟件簡化了圖像采集、測量和分析。利用集成的電動控制和實時圖像優化,可以快速、輕松地獲取高質量的圖像。「Myanalysis」軟件允許用戶使用用戶定義的參數快速測量、分析和編碼圖像。JEOL JSM 6060 LV掃描電子顯微鏡的極致性能是非常顯著的.結合卓越的成像功能和用戶友好的軟件界面,用戶可以以最高的細節和準確性輕松捕獲和分析各種樣本。JSM 6060LV具有強大的設計和廣泛的功能,是任何需要具有無與倫比的性能、可靠性和經濟性的儀器的實驗室的理想選擇。
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