二手 JEOL JSM 6060LV #9314363 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6060LV
ID: 9314363
Scanning Electron Microscope (SEM) SE and BSE resolution Specimen: Up to 32mm in diameter Standard automated Low vacuum mode Manual PC Operating system: Windows 10.
JEOL JSM 6060LV是一種用於復雜研究工作的掃描電子顯微鏡(SEM)。它具有出色的分辨率,能夠精確地將樣品成像到一納米的分辨率.作為掃描電子顯微鏡,它使用聚焦電子束檢查樣品的表面形態。電子與樣品相互作用,產生不同的信號,然後由顯微鏡處理和分析。這種類型的顯微鏡提供了一系列特征和能力,例如樣品元素的映射,以及在高真空、低真空或環境模式下的操作。JEOL JSM 6060 LV的主要優點之一是光學性能。其性能在分辨率和對比度分辨率方面可謂出類拔萃,非常適合於微小粒子和特征的成像和分析。顯微鏡可以產生分辨率最高的影像。它還具有廣泛的探測器選項,允許進行各種各樣的實驗。高分辨率的1納米分辨率也使得它對小樣品成像非常有效,具有對相對密度和尺寸進行精確測量和測量的能力。對於需要更高精度的用戶,JSM 6060LV具有5 nm分辨率的數字視頻系統,可提供最高分辨率的映像。JSM 6060 LV的性能也通過其先進的成像軟件得到提升。該軟件提供強大的圖像處理功能,允許應用過濾器、進行測量和進行定量分析。顯微鏡還通過自動獲取多個圖像並將其組合以產生更高分辨率的圖像來提供一系列成像選項。JEOL JSM 6060LV也是一個能幹的分析SEM,具有出色的元素分析能力.包括的STEM(掃描透射電子顯微鏡)模式允許使用能量色散光譜或電子能量損失光譜進行分析。此外,內置的能量濾波器允許光元素檢測和元素分析低至幾百萬分之幾。總之,JEOL JSM 6060 LV是一款功能強大的SEM。它具有出色的分辨率和圖像質量以及廣泛的成像應用。其精確度和分析能力使其非常適合任何研究環境。用戶友好的界面、先進的成像軟件和各種檢測器選項使JSM 6060LV復雜樣品成像和分析的絕佳選擇。
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