二手 JEOL JSM 6060LV #9408117 待售
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ID: 9408117
Scanning Electron Microscope (SEM)
With water cooler
Does not include EDS
(2) Vacuum pumps
HP Z230 Workstation
Resolution:
High vacuum mode: 3.5 nm (30 kV, 6 mm WD)
Low vacuum mode: 4.0 nm (30 kV, 6 mm WD)
Electron source: Pre-centered W hairpin filament
Magnification: x5 (48 mm WD) to 300,000 (149-Steps)
Image modes: Secondary electron image backscattered electron image
Detectors: Solid state type
Objective lens: Conical lens, WD 6 to 48 mm
Objective aperture: 30-Micron, manually centered with OL wobbler
Specimen stage: Eucentric goniometer
X: 80 mm
Y: 40 mm
Z: 5 to 48 mm
R: 360° (Endless)
T: -10 to 90°
Image store: 1280 x 960 Pixels
Analytical working distance: 10 mm for EDS and standard operation
Vacuum mode changeover:
Automatic PC interface controlled
LV Mode: 10-270 Pa
LV Detector: BEI and modes
Energy dispersive X-Ray microanalysis:
iXRF EDS Elemental analysis system
OXFORD INSTRUMENTS Si (Li) X-Ray detector, 10 mm²
Resolution (Mn K-Alpha): 130 eV
Light element detection (Be-U)
Sensitivities: Typically 0.1% - 1%
Qualitative analysis
Quantitative analysis
Digital X-Ray mapping and imaging, X-Ray linescans
Accelerating voltage: 0.5 to 30 kV (53-Steps)
Probe current: 1 pA to ~1000nA
Operating system: Windows 7.
JEOL JSM 6060LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種桌面SEM,是工業應用和大學及研究實驗室中最受歡迎的模型之一。JEOL JSM 6060 LV提供多種特性和功能,使其成為廣泛應用的理想選擇,從高細節成像樣品到元素分析。利用現場發射槍設計和高亮度光束，設計了SEM來提供優化的圖像質量。掃描電子顯微鏡裝有InLens探測器，能夠進行二次電子和反向散射電子成像。它還有一個較大的腔室大小，允許在較高的放大倍率範圍內對非導電材料進行樣品分析。該設備的設計提供了簡單的操作和廣泛的成像方法。它具有超高分辨率,可以達到4.5nm的分辨率,最小工作距離為9mm。該單元還具有低真空模式，意味著它可以在沒有真空室的非導電樣品上工作。JSM 6060LV有各種各樣的樣本持有者，使用戶能夠執行廣泛的應用，包括EDS、WDS、EDX、EBSD和STM映射。最大腔室壓力低（<5×10−3 Pa），此外，機組還配備了自動對準系統。該單元還具有圖像縫合功能，允許用戶以10微米的精度捕捉復合圖像。此外，先進的軟件控制系統允許對各種應用進行微調。總之，JSM 6060 LV掃描電子顯微鏡是一種功能強大、用途廣泛、操作方便的SEM，是研究人員和工業用戶的絕佳選擇。SEM提供了卓越的性能,具有種類繁多的樣品支架、InLens檢測器、超高分辨率、低真空模式、自動對準系統和圖像縫合功能。SEM非常適合各種材料,是眾多應用的絕佳選擇。
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