二手 JEOL JSM 6100 #201085 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6100
ID: 201085
Scanning Electron Microscope (SEM) 200 VAC, 15A, 1 phase, 50/60 Hz, 3 kVA.
JEOL JSM 6100是一種掃描電子顯微鏡(SEM),可用於高分辨率成像和表面分析。它具有在低真空或高真空模式下操作的能力,因此適合廣泛的應用。設備的主要部件包括電子槍、電子光學、檢測系統和標本室。電子槍產生一束被加速到所需能量的電子束。電子光學單元聚焦和成形光束,確定圖像的放大倍率。偵測機記錄落在標本上的電子,產生表面的二維影像。樣品室是放置樣品進行成像和分析的地方。JSM 6100的特點使其非常適合於各種材料的成像。其加速度電壓範圍為1-30千伏,放大倍率範圍為10x-800kX。這種廣泛的電壓和放大率使得它適用於從薄膜到亞微米粒子的任何成像。它還能夠成像和分析各種樣品表面,包括電介質和聚合物等易碎材料。JEOL JSM 6100還具有多項增強功能,可以讓用戶獲得更詳細的圖像。它有一個集成的二次電子檢測器,使用戶能夠區分樣品表面更精細的細節。它還有一個反向散射的電子探測器,能夠提供不同材料之間的對比。此外,JSM 6100還配備了自動化的舞臺,可方便快捷地進行樣品定位。總體而言,JEOL JSM 6100是一種出色的掃描電子顯微鏡,用於高分辨率成像和表面分析。它的高加速電壓範圍和寬放大倍率水平使其適合分析多種材料,而其集成的探測器和自動級則給用戶更多的細節和準確性。有了這些特點,JSM 6100是任何顯微鏡實驗室的寶貴工具。
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