二手 JEOL JSM 6100 #293810730 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6100
ID: 293810730
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6100是一種掃描電子顯微鏡(SEM)。它用於放大對象,最大放大倍數為500,000倍。它是一種高分辨率、低壓顯微鏡,甚至能夠觀察和分析最小的樣品粒子。SEM允許將成像和樣品分析降至1nm,使其成為樣品檢查和研究的絕佳工具。JSM 6100采用兩種亮度控制方法。第一種是常規的亮度控制,第二種是張力控制系統,允許用戶以極高的精度精細調整光束參數。顯微鏡使用Everhart-Thornley型探測器,能夠對非導電樣品進行高分辨率成像。圖像還可以通過各種成像模式得到增強,包括反向散射電子(BSE)成像、能量色散光譜(EDS)成像和陰極發光成像。JEOL JSM 6100輕巧、用戶友好的設計使其非常適合實驗室和現場設置。該儀器配備了一個大的觸摸面板和一個可選的操縱桿,允許精確的樣品操作。樣品可以在各種環境中觀察到,包括低溫、真空和潮濕的環境。對電子束和探測器設置的精確控制使SEM成為觀察詳細材料橫截面的寶貴工具,揭示了對標本特性的強大洞察力。總之,JSM 6100是一種提供高分辨率成像和精確樣品分析的強大掃描電子顯微鏡。其先進的功能和用戶友好的設計使其非常適合各種設置。該儀器可用於制作物體和材料的精確圖像,為世界各地的研究人員和科學家提供有價值的信息。
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