二手 JEOL JSM 6100 #293816150 待售

JEOL JSM 6100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於工業、生物和材料科學研究應用中的樣品成像、元素分析和表面分析。JSM 6100提供多種分析功能,以支持廣泛的科學研究。SEM利用高真空單色高分辨率場發射槍（FEG）提高圖像分辨率、對比度和更高的吞吐量。FEG可針對對比度和其他成像參數進行調節,從而優化圖像的分辨率和範圍。該設備具有先進的電子設備,可直觀可靠地控制成像過程。SEM配備了一整套先進的成像模式，包括反向散射電子成像（BSE）、二次電子（SE）成像和陰極發光。BSE提供了卓越的景深成像能力，非常適合分析表面地形和染色。SE模式產生高對比度的表面形態圖像，非常適合在硬質樣品中成像砂礫和裂紋圖樣。SE模式還允許對樣品進行定量元素分析，提供樣品元素組成的準確表示。JEOL JSM 6100利用能量色散X射線光譜（EDS）探測器對材料進行元素分析。EDS提供了傳統EDS系統無法提供的卓越分辨率、靈敏度和能量辨別。EDS與SEM顯微鏡階段相結合，允許對樣品中存在的元素進行快速有效的映射。JSM 6100配備了精細的成像系統,為執行各種分析任務提供卓越的圖像分辨率、對比度和靈活性。該裝置能夠成像分辨率高達1.5nm的樣品。機器還配備了一個自動采樣階段，允許對采樣進行自動遍歷和制圖。采樣階段的自動化提高了圖像捕獲的吞吐量和準確性。JEOL JSM 6100是一種高效可靠的工具,可用於各種成像和分析任務。該資產可靠,幾乎不需要維護,因此可以實現經濟高效和一致的操作。平臺還配備了先進的安全功能，確保人員在運行過程中的最佳安全。先進的成像、分析和自動化能力相結合，使得JSM 6100成為工業、生物和材料科學研究的理想模型。