二手 JEOL JSM 6100 #9147721 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6100
ID: 9147721
Scanning electron microscope (SEM) Resolution: High vacuum mode: 3.0 nm(30kV) Low vacuum mode: 4.0 nm(30kV) Accelerating voltage: 0.3 to 30 kV Magnification: x5 to 300,000 Filament: Pre-centered w hairpin filament (with continuous auto bias) Objective lens: Super conical lens.
JEOL JSM 6100掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高性能成像設備,用於材料分析、納米技術、生命科學研究等多種應用。這款先進的SEM可生產分辨率高達16 nm的高分辨率圖像,並提供全自動、超快速的圖像采集。SEM還具有多種成像模式,如反向散射電子、二次電子和陰極發光成像,可以觀察各種樣品類型。JSM 6100具有先進的掃描電子光學設備,提供無與倫比的圖像質量和無與倫比的景深。它具有廣闊的視野,對角線長達55毫米,能夠在比競爭對手的系統更大的區域內獲得更精細的細節。該儀器還具有直觀的用戶界面和易於使用的觸摸屏面板。這允許直觀的操作和最小的用戶培訓。SEM采用高性能探測器和高分辨率數字視頻采集系統。此外,SEM還配備了一個自動化的樣本階段,具有種類繁多的標本持有者以及自動化的階段掃描功能。這樣可以快速輕松地獲取大型數據集。SEM采用了10keV至25keV的自動調節電子槍單元,使其在多種應用中具有高度的通用性。它具有獨特的光束減速電路,能夠將電子加速減速到精確的水平,從而消除敏感樣品中的靜電。JEOL JSM 6100還設計用於低振動操作,噪聲水平低於50dB,使其能夠在各種環境中產生高質量的圖像。此外,它還具有多種PC樣式的外部接口以及擴展的圖像分析和評估功能。總體而言,JSM 6100是一款功能強大且可靠的掃描電子顯微鏡,它提供了無與倫比的成像性能、用戶和環境特性組合。JEOL JSM 6100憑借其先進的SEM光學機器、直觀的用戶界面和全自動采樣階段,非常適合各種應用。
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