二手 JEOL JSM 6100 #9219588 待售

JEOL JSM 6100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對材料進行低放大率和高放大率的高分辨率成像。這款功能強大的分析工具結合了極高分辨率成像、優越景深、高靈敏度元素檢測能力以及廣泛的標本尺寸和形狀兼容性的卓越組合。該儀器結合了可變壓力掃描電子顯微鏡和超高分辨率透鏡系統。電子槍裝有低真空熱電子燈絲，提供的初級電子束厚度僅為0.2 nm。這種高精度使得JEOL-JSM 6100非常適合需要高分辨率成像和表面分析的應用。獨特的真空泵送系統讓系統被抽空到超低壓，大大提高了高質量SE（二次電子）圖像的產生。二次電子探測器配備了可變掃描速率和動態孔徑，進一步提高了成像質量和靈活性。先進的SE探測器具有最多四個探測器的陣列，每個探測器放大到30萬次時的視場為5或10 µm。這使得可以在多個通道中同時進行SE成像，以用於高級應用，如多能量成像和電子束光刻。此外，JEOL-JEOL JSM 6100還配備了可選的反向散射電子探測器，使其適合在ESEM（環境SEM）模式下使用。JEOL-JSM 6100除了具有高精度成像能力外，還支持廣泛的標準和可選分析能力，包括能量色散X射線光譜和陰極發光。JEOL-JEOL JSM 6100具有高分辨率的成像、優越的景深和廣泛的分析能力,非常適合進行強大的材料檢測和表征。