二手 JEOL JSM 6100 #9224652 待售

JEOL JSM 6100是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於對一系列樣品進行表面檢查和分析。它具有高分辨率、大視野和可變壓力設備，非常適合觀察和分析具有精細幾何結構的樣品。JSM 6100最大輸出30千伏，最大放大倍數達90,000倍。顯微鏡配備了場發射槍（FEG）電子源，與其他源相比提供了更大的穩定性和更高的能量利用率。這樣可以提供卓越的分辨率和成像質量。顯微鏡能夠提供三種類型的掃描數據，從真實的計劃視圖到深度輪廓圖像。此外，還有一個數字圖像系統可用於觀察和顯示樣本。該樣品可利用一系列技術用於攝影，包括光束誘導沈積、濺射塗層塗層和化學氣相沈積。JEOL JSM 6100的快照時間不到兩秒,因此可以快速處理樣本和後續查看。JSM 6100還提供了幾種自動分析功能。其中包括三種可用於執行反向散射成像、EDX元素分析和電子反向散射衍射的特殊模式。此外，顯微鏡允許自動對準和聚焦控制，這意味著樣品對準和最佳聚焦可以快速準確地實現。除了JEOL JSM 6100之外，JEOL還提供了一系列配件，用於進一步定制設備。這包括各種真空部件，如樣品裝載機和腔室加熱機；顯微鏡級，如用於樣品移動的步進電動機；和探測器，如X射線、二次電子、反向散射電子和陰極發光探測器。這些組件可用於自定義工具,並將其功能擴展到用戶的特定需求。總體而言,JSM 6100 SEM是一種功能強大、復雜的資產,可用於多種應用程序。它具有高分辨率、寬視野、先進的成像和分析特點，非常適合細化樣品的觀測和分析。JEOL JSM 6100 SEM具有快速處理和顯示數據的能力，是一種高效的表面檢測和分析工具。