二手 JEOL JSM 6100 #9226960 待售

JEOL JSM 6100是一種用於高分辨率成像的掃描電子顯微鏡（SEM）。它能夠產生比傳統光學顯微鏡高得多的空間分辨率的圖像，使其成為研究許多材料納米級結構的有力工具。JSM 6100配備了場發射掃描電子源（FESEM），提供比熱發射SEM更好的信噪比和更高的分辨率。在FESEM配置中，它在二次電子模式下具有低至0.7 nm的分辨率能力，在反向散射電子模式下具有1.5 nm的分辨率能力。JEOL JSM 6100利用掃描級,具有兩軸偏轉線圈和計算機控制的樣品操作功能。它具有12微米的運動範圍,允許快速和精確的成像.JSM 6100還具有25毫米的較大工作距離，允許方便的標本操作和放置，而不會損壞細膩的標本。JEOL JSM 6100還帶有許多高級成像功能。其中包括角度解析成像,它允許精確地映射曲面的許多特征。它還具有成分分析的特點，使樣品的化學成分易於確定。JSM 6100提供可變壓力成像，允許在一定範圍的真空壓力下成像，允許觀察到小於儀器分辨率極限的特性。JEOL JSM 6100配備了用於元素分析的EDS（能量色散光譜）檢測器。此檢測器能夠檢測元素周期表中的元素到小於1%的檢測極限。JSM 6100還具有超高分辨率成像模式,允許對0.3 nm以下的功能進行成像。總體而言，JEOL JSM 6100是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡，具有許多先進的功能，非常適合對納米級結構進行成像和分析。