二手 JEOL JSM 6100 #9240232 待售
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ID: 9240232
Scanning Electron Microscope (SEM)
ADDA II Soft imaging system
Does not include EDX
PC With immersion system.
JEOL JSM 6100是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於各種材料的詳細成像和分析。它具有令人印象深刻的分辨率級別,最大放大能力可達50,000倍。顯微鏡具有高分辨率二次電子成像、反向散射電子成像和高分辨率透射電子成像能力,可用於分析樣品表面和界面。顯微鏡還配備了一個自動掃描級,可以生成高分辨率的計算機斷層掃描和3D模型的樣品。這得益於高分辨率的三維可視化功能。這種顯微鏡還有一個大腔室,可以容納更大的樣品。6100由用戶友好的軟件平臺操作。它具有腳本編寫功能,可以同時分析許多示例。該軟件還提供3D圖像重建功能以及二維統計分析。標本室配有堅固的標本架,設計使標本裝卸更容易。腔室還具有高真空壓力,能夠進行更大範圍的材料分析。最後,JSM 6100還包括一個可選的能量色散光譜(EDS)系統。這為顯微鏡增加了額外的能力,包括樣品的成分分析。它還允許對樣本進行映射和定量分析。總之,JEOL JSM 6100是一種高性能掃描電子顯微鏡,設計用於對材料樣品進行精確、詳細的成像。它提供了多種功能,包括高分辨率成像、3D可視化、自主掃描階段和能量色散光譜功能。這使得研究人員能夠對樣品進行詳細的分析,直至原子水平。
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