二手 JEOL JSM 6300 #293658285 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6300
ID: 293658285
Scanning Electron Microscope (SEM) X-Y have motors No controller Z-Axis is motorized Si Drift detector Lab-6 filament Tungsten.
JEOL JSM 6300掃描電子顯微鏡(SEM)是一種將最新的掃描電子和加速技術與高分辨率成像和樣品分析性能相結合的前沿儀器。它非常適合需要快速、準確的成像和分析的研究和行業應用。該系統能夠實現對加速電壓30kV的5MV,從而優化分辨率和對比度,從而形成幹凈的圖像,而無需光束校正。其光斑尺寸為1nm的高分辨率野外發射槍允許以更大的放大倍數詳細可視化較小的粒子。它還允許捕獲圖像進行分析,並將它們與各種各樣的分析程序和軟件相結合。JEOL JSM-6300掃描電子顯微鏡具有自動化的通用級,內置了360度取樣視圖的傾斜旋轉系統。該階段與各種樣品持有者兼容,如鉆石柵格存根、倒置標本持有者和可拆卸的基因旋轉標本持有者,以確保標本的安全處理和密封。高級成像功能,如多聚焦、廣域圖像傳輸、多場圖像捕獲和序列圖像捕獲,可用於無縫高效成像。JSM 6300具有高級圖像處理、自動粒子計數和成像、無失真圖像投影以及通用的實驗室自動化工具,是一個可靠的成像和分析平臺。JSM-6300掃描電子顯微鏡還配備了用於二次電子圖像的CCD攝像機,其曝光參數可調節以獲得最佳亮度、對比度和分辨率。該相機采用全局內部快門,具有精確的定時系統和幀轉移CCD,可快速捕捉圖像。除了其著名的成像能力外,JEOL JSM 6300 SEM還配備了分析元件,如能量色散X射線光譜(EDS)和電子反向散射衍射(EBSD)的雙檢測器。EDS檢測器具有卓越的分辨率和動態範圍,並具有自動采樣開關,可提高分析速度和精度。EBSD探測器為具有復雜紋理和組成的樣品提供快速元素映射能力。最後,JEOL JSM-6300 SEM通過直觀的觸摸屏用戶界面和獨特的3D導航窗口進行控制。這個先進的軟件套件使研究人員能夠管理和操作所有類型的成像和分析數據,以便進行全面和高效的分析。此外,JSM 6300適用於半導體器件檢測、表面計量和材料研究等廣泛的應用。
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