二手 JEOL JSM 6300 #293825454 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6300
ID: 293825454
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6300是專為進行詳細、高分辨率成像和成分分析而設計的專門研究級掃描電子顯微鏡。這種場發射電子顯微鏡具有一種冷場發射槍,它提供可以加速到不同能量(從0.5 keV到30 keV)的電子,以便操作員進行廣泛的成像和表面分析。JEOL JSM-6300提供高達2.5 nm的驚人分辨率,允許對從納米尺度到微米尺度的標本進行高度詳細的觀測。它的大樣本室和10 μ米的光斑大小使它可以靈活地用於分析從小粒子到大半導體器件的一系列樣品類型。JSM 6300的另一個特點是其先進的EDS(能量色散光譜)系統。該系統能夠檢測原子序數低至硼(原子序數5)的元素。利用其光譜儀和X射線發生器組件,EDS系統可以對樣品進行準確的定性和定量分析,而不會對樣品造成損害。此外,JSM-6300還提供了一個快速運動階段,它可以快速風向、平移和縮放到所需區域,以便在收集數據時節省時間。這種定位裝置方便用戶,能夠準確放置和掃描整個樣本或其視野內的局部區域。簡而言之,JEOL JEOL JSM 6300對於需要對其標本進行高分辨率成像和成分分析的研究實驗室來說,可以是一個寶貴的工具。高分辨率和精確度的結合使其非常適合各種應用,其先進的特點使其易於使用。
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