二手 JEOL JSM 6300 #9234610 待售
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ID: 9234610
Scanning Electron Microscope (SEM)
PC Controlled
Voltage: 0.2 kV - 30 kV
Magnification: 10 x - 300,000 x
Detectors: SE, BSE
Resolution: 3.5 nm (at 30 kV)
Option: EDX.
JEOL JSM 6300是一種掃描電子顯微鏡(SEM),專為成像和分析多種樣品而設計,如金屬、陶瓷、聚合物、半導體、復合材料等材料。它為極小的樣品特征提供了高分辨率的成像功能,最小特征尺寸小至0.5nm。JEOL JSM-6300的設計采用了先進的高分辨率數字成像程序,用於采樣和成像各種樣本量。它結合了兩種不同的工作模式來增強成像能力:二次電子成像(SEI)和反向散射電子成像(BSEI)。SEI非常適合檢查和分析表面地形,而BSEI非常適合獲取有關樣品組成和材料形態的詳細信息。JSM 6300具有緊湊的設計,具有通用的操作功能和直觀的用戶界面。它的高級階段設計允許在廣泛的視野範圍內以及x、y和z軸的運動範圍內進行探索。此外,JSM-6300還設有一個大型標本室,可容納多達兩個4英寸的樣本持有者,以便進行有效的樣品處理。JEOL JSM 6300還具有數組分析能力,如能量色散X射線(EDX)光譜元素分析、電子反向散射衍射(EBSD)分析和相位映射能力。它具有定制成像參數的最佳用戶控制,以獲取詳細和準確的圖像。JEOL JSM-6300具有卓越的靈敏度、穩定性和靈活性,非常適合研究和制造環境中的各種應用。其多才多藝的特點和功能使其適合許多影像和分析工作,滿足工業、科學和學術領域許多用戶的需求。
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