二手 JEOL JSM 6300 #9314149 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6300
ID: 9314149
Scanning Electron Microscope (SEM) Resolution: 1.5 nm @ 30 kV Maximum chamber / Sample size: 5" Sample size X x Y: 50 x 70 mm Manual stage.
JEOL JSM 6300是一種高級掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於高分辨率成像和分析應用。與傳統光學顯微鏡相比,它能夠提供卓越的圖像質量和空間分辨率。JEOL JSM-6300具有像素大小為25.4 μ m的大型17.0厘米x 11.5厘米二次電子探測器和像素大小為9.2 μ m的4.2厘米x 4.2厘米反向散射電子探測器。該系統配備了超高真空(UHV)級,具有低噪聲的UHV樣品支架,允許對幹燥和濕樣品進行成像和分析而不受汙染。此外,該系統能夠產生大的景深成像,使用戶能夠獲得大表面積的詳細圖像。除了成像和分析能力外,JSM 6300還具有各種類型的光譜,包括電子線和波長色散X射線光譜(WDS)。E-line spectroscopy is used for elemental analysis by measurement the energy of specific x-ray lines employed from the sample.WDS用於表面分析,使用多條X射線測量元素組成和分布。JSM-6300還包括集成電子槍,這是一種低壓電子槍,設計提供超低背景噪聲和擴展的操作參數。這使用戶能夠在較大的表面積上獲得具有出色均勻性的高對比度圖像。JEOL JSM 6300是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,提供卓越的圖像質量、分辨率和分析能力。適用於多種應用,包括半導體和材料科學研究、冶金和失效分析,以及生命科學。
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