二手 JEOL JSM 6300F #116159 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6300F
ID: 116159
優質的: 1993
Field emission SEM Capability: 500, 000x, 0.5 to 30kV Includes: Console Gun assembly Mechanical pump Bake unit EDX Attached.
JEOL JSM 6300F是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於亞納米分辨率的高性能成像。它對掃描電子顯微鏡(SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的應用具有超高分辨率。JSM 6300F強大而通用的設計使高速成像具有高吞吐量、低成本和極高的精確度。JEOL JSM 6300F配備了超高分辨率野外發射槍(FEG),帶有大極片的大腔室,以及高性能的電子光學系統。它提供了各種各樣的光束電流和工作距離選項,允許用戶瞄準所需的成像目標。此顯微鏡還包括高級功能,包括EDAX(能源色散分析X射線)、自動導航和對準、用於樣品準備的自動化階段以及用於集成成像的多光束檢測系統。大腔室和改進的桿片使JSM 6300F能夠實現更大的磁場深度和更高的分辨率,並減少失真。它能夠成像各種樣品,包括活細胞、非活物質、軟硬材料以及納米顆粒。樣品處理和自動對準功能即使在非常低的放大倍數下也能方便準確地成像。JEOL JSM 6300F在成像、分析和自動化方面提供了靈活性和最高的性能。它的高吞吐量和高分辨率的能力使它成為研究人員尋找小結構圖像和分析其材料組成的可行選擇。集成的電子光學系統使用戶能夠調整束電流、角度和工作距離,以最大限度地分辨出他們想要的圖像,幫助他們觀察精細的細節和微觀結構。自動化的功能、分析能力及其一系列的樣本操作選項使SEM成為各種研究應用的一個有吸引力的選擇。
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