二手 JEOL JSM 6300F #53576 待售

JEOL JSM 6300F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），旨在幫助研究具有最終分辨率的小型物體和標本。這款先進的電子顯微鏡提供高分辨率成像、優於樣品的可重復性以及滿足各種應用要求的一系列靈活性。JSM 6300F具有用於產生初級電子束的高分辨率場發射槍（FEG）。它的冷態提高了圖像的穩定性，其高加速電壓使得較厚樣品的成像成為可能。高電子束電流使樣品具有良好的圖像亮度和最小的電荷。JEOL JSM 6300F由二次電子探測器、反向散射電子探測器和快速FE二次探測器組成。結合它的高分辨率硬件，這樣可以實現復雜結構的更高放大成像。該系統具備成像和分析能力。幾種成像技術，如SE影像、次電子影像、BSE影像、SE/BSE影像可以獨立使用或組合使用。在定性評價方面,JSM 6300F的計算機輔助顯微鏡（CAM）成像軟件對於量化內部特征特別有用,並與該軟件的各種調整工具配合使用。JEOL JSM 6300F還提供一系列分析能力。它具有自動化分析和掃描技術的綜合選擇，如自動光譜映射、線形分析、面積形分析、元素分析等等。強大的板載X射線功能提供了即使是亞微米區域的高分辨率視圖。這些特性加上易用性,使JSM 6300F成為材料科學、表面工程、設備物理、生物學和其他研發應用的理想工具。高水平的自動化、精細的校準和可靠的可重復性使其成為當前最強大的SEM之一。