二手 JEOL JSM 6300V #9098216 待售
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ID: 9098216
Scanning Electron Microscope (SEM)
Imaging and control system
Manuals included
Power: 200 VAC, 30 A, Single phase, 6 kVA.
JEOL JSM 6300V是一種高性能二次電子掃描電子顯微鏡（SEM）.該儀器采用的先進技術使其成為最可靠、功能最強大的SEM之一。它具有高質量的成像能力和廣泛的分析能力,是滿足各種應用需求的理想選擇。JSM 6300V結合了最新的電子光學技術,為微觀結構提供了出色的成像效果.它利用高分辨率槍和物鏡系統來最大化分辨率和最小化像差。其高分辨率提供精細細節的卓越成像，包括薄膜和納米級結構。JEOL JSM 6300V還提供了低至0.5nm的增強的聚焦深度和深度分辨率,從而提供了非常精確的細節。JSM 6300V還配備了一系列旨在增強其分析能力的配件。其中包括能量色散X射線（EDX）探測器、陰極發光（CL）探測器、電子反向散射探測器（EBSD）探測器和高能衍射（HED）系統等廣泛的探測器。這使得SEM可以用作強大的分析工具，允許進行組成成像和晶界分析等研究。JEOL JSM 6300V除了具有成像和分析功能外,還具有出色的靈活性和易用性。其廣泛的軟件包提供了許多任務的強大自動化，如模式識別和分析。它還提供了先進的試樣加載自動化，以簡化顯微鏡的操作。總體而言,JSM 6300V是一系列材料分析應用的理想選擇。它結合了強大的成像能力和精密的分析能力，使其成為掃描電子顯微鏡應用的必備產品。JEOL JSM 6300V具有出色的靈活性、精確度和可靠性,非常適合各種材料研究和分析的應用。
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