二手 JEOL JSM 6301F #293610717 待售

JEOL JSM 6301F是一種掃描電子顯微鏡，利用聚焦電子束產生高分辨率、高速圖像和樣品光譜。JEOL JSM 6301 F以其50mm2的視野和高達300kV的電子加速度提供了廣泛的成像和分析能力，允許在納米級生成詳細的圖像。SEM的主要元件是電子槍，電子由場發射槍加速。電子穿過一列到達樣品室，在那裏電子與樣品相互作用並產生圖像。然後可以使用各種數字成像軟件對圖像進行進一步分析。該軟件允許量化和分析樣品中存在的各種特征，如表面地形、組成和結構。JSM 6301F的另一個強大方面是能夠用二次電子和反向散射電子成像進行元素分析。這些技術使用不同能級的電子探測樣品的組成，並提供化學映射、牛津式定量分析，以及在低加速電壓下檢測光元素。JSM 6301 F用途廣泛，結合了幾種類型的探測器來執行各種測量和分析。電子反向散射衍射（，EBSD）是一種允許在納米級表征晶體學和微結構信息的模式。EBSD系統旨在準確定位樣本的基本宏觀結構,如晶界、雙邊界和相位邊界。JEOL JSM 6301F還具有陰極發光檢測器、高真空室和單色後屏幕檢測器，以進一步提高其分析能力。這些特性的結合允許考察各種性質，如電阻率、電場和磁場、溫度等等。除了分析能力外，JEOL JSM 6301 F還提供了先進的工作流程。該軟件集成了直觀的圖形用戶界面，允許用戶快速、輕松地輸入相關參數、樣本信息和處理設置。強大的成像、元素分析和直觀的軟件相結合,使JSM 6301F研究和行業的寶貴工具。