二手 JEOL JSM 6320F #136303 待售

JEOL JSM 6320F掃描電子顯微鏡（SEM）是一種高分辨率成像工具，用於獲取納米級和微級樣品的高對比度圖像。它能夠成像地形和元素對比，可用於檢查和分析。在JSM 6320F的心臟是一個場發射槍，它可以在0.5到30kV的寬束加速電壓範圍內提供具有高初級束電流的電子束。這種電子束在樣品上掃描以提供所需的圖像。通過在顯微鏡上包括一個內置的微對準特征，確保電子束在樣品上的精確對準，從而確保獲得最佳的圖像。JEOL JSM 6320F的電子光學包括肖特基和LaB6電子源、提供最大功率穩定性和像差的四極透鏡柱、加速側桿透鏡、冷凝器透鏡和平行光束系統，以減少散射量並提高分辨率。此外,可更改的冷凝器允許任何放大倍率下的最佳圖像質量。JSM 6320F SEM的高分辨率是由其Everhart-Thornley二次電子探測器和大視場構成的。Everhart-Thornley探測器設計用來捕獲樣品反向散射的每一個電子，從而以更多的對比度提供更精確的圖像。大視野允許用戶對廣闊的區域進行成像，從而能夠對樣品進行快速檢查和分析。除了成像，JEOL JSM 6320F還能夠提供各種分析能力。這些包括電子反向散射衍射、二次電子成像、原位掃描熱分析和化學分析。可以使用能量色散X射線光譜（EDS）和波長色散X射線光譜（WDS）探測器進行原位化學分析。總之，JSM 6320F是一種先進的掃描電子顯微鏡，它結合了高分辨率成像和強大的分析能力。利用其野外發射槍、Everhart-Thornley探測器和四極透鏡柱，能夠在納米和微觀尺度上提供清晰、高對比度的圖像，而其EDS和WDS探測器則能夠對樣品進行化學分析。因此，它是許多行業和研究應用的樣品顯微鏡和分析的理想工具。