二手 JEOL JSM 6320F #9134048 待售

JEOL JSM 6320F是一種先進的掃描電子顯微鏡，設計用於成像和分析各種材料。它利用掃描電子束捕獲單個原子、粒子、各種大小的粒子以及其他材料的高分辨率圖像。JSM 6320F具有內置的能量色散X射線光譜儀和數字顯示功能,使用戶能夠實時分析樣品。JEOL JSM 6320F利用鎢絲電子槍產生掃描電子束。然後在樣品上掃描這個電子束，以創建樣品的二維電子圖像。電子束使用冷凝器透鏡聚焦，並使用可調光圈散焦。這使顯微鏡能夠產生清晰和高分辨率的圖像，並允許用戶觀察樣品的復雜細節。此外，JSM 6320F還配備了集成電子能量損失光譜儀（EELS），用於檢測和分析樣品電子的能量狀態。這可以提供額外的分析能力和檢測特定的材料組成。此外，EELS還可用於檢測樣品的元素組成和取向，以及測量厚度。JEOL JSM 6320F還帶有內置的多通道板探測器。該探測器用於捕獲來自電子束的信息，然後將其用於生成樣品的圖像。該探測器可用於捕捉各種樣品的高對比度圖像，在原子水平上研究微結構時特別有用。探測器還有助於降低背景噪聲和提高圖像分辨率。最後，JSM 6320F配備了數字顯示設備，使用戶能夠實時觀察他們的分析。這種顯示系統提供了比傳統熒光屏更高的對比度和分辨率。此外,在分析完成後,可使用顯示單元查看圖像。總之，JEOL JSM 6320F是一種強大的掃描電子顯微鏡，可以提供各種樣品的高分辨率圖像。它配備了掃描電子束、能量色散X射線光譜儀、多通道板探測器以及實時觀測的數字顯示機。這種功能強大的顯微鏡使用戶能夠準確地分析和觀察他們的樣品細節。