二手 JEOL JSM 6320F #9144812 待售

JEOL JSM 6320F是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡（SEM）,能夠進行多種測量和成像技術。JSM 6320F利用最大加速電壓為30千伏的電子柱，使其成為從生物試樣到半導體等一系列研究的理想選擇。柱上裝有透鏡內二次電子檢測器，為標本提供高性能成像。二次電子探測器能夠區分和突出表面特征，如坑、粒子和電子束引起的損傷。列內的Everhigh腔室，為腔室的快速疏散提供了盡可能高的真空水平，並提高了後續圖像的分辨率。一個充氣門波紋管系統也被用於確保室內的最佳壓力水平。SEM的Hi-bright系統同時為多達三個物體提供高亮度照明，並利用基於閃爍體的反反射屏幕來減少圖像采集中存在的背景噪聲量。同時進行明暗場成像也可用於優化精細表面特征的可視化。該儀器還能夠制作各種低壓成像（LVI）模式。LVI成像非常適合在低壓和光束損傷最小的情況下成像有機樣品。這種技術可以改進對比度和分辨率，並且能夠獲得在常規二次電子成像中看不到的信息。顯微鏡具有多種特殊的測量技術，如能量色散光譜（EDS），一種對樣品中的材料進行原位成分分析的方法。這種技術對於物質表征和鑒定是必不可少的。JEOL JSM 6320F還支持一個能夠精確定位樣品以達到最佳成像條件的自動級。舞臺設置可以很容易地進行操作,以連接SEM視圖,包括360度旋轉、傾斜視圖設置和橫截面成像。總之，JSM 6320F是一種功能強大、用途廣泛的掃描電子顯微鏡，具有多種成像和測量技術。它具有卓越的真空和照明系統,為各種應用提供卓越的性能。