二手 JEOL JSM 6320F #9210319 待售

JEOL JSM 6320F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM）,它利用先進的電子光學和探測器對原子和納米級的樣品進行成像。它能夠產生令人驚嘆的高分辨率圖像，即使是最優秀的細節。該6320F提供卓越的成像效果,視野可達54 µm,高清分辨率為4.1 nm。電子束由20極單極磁體加速，有助於提高電流和空間分辨率，獲得高對比度和清晰度的詳細圖像。該6320F還配備了各種標本架和舞臺，設計用於處理各種樣品類型和大小。它能夠容納直徑最大200毫米、高度最大120毫米的樣品。它的舞臺調整範圍在X和Y方向上高達40mm，方便人體工程學的樣品觀看。SEM還配備了雙檢測器設備，設計目的是讓用戶從他們的標本中獲得最大收益。有一個二次電子（SE）檢測器檢測從樣品中散射出來的電子進行明場成像。這樣可以識別樣品上的不同材料，並能夠檢測各種材料的對比。另外，反向散射電子（BSE）檢測器旨在捕獲大的高對比度圖像，用於分析樣品表面。由於其先進的電子光學，6320F能夠以高達10,000倍的分辨率成像。它還配備了用於樣品大氣和環境條件的地表控制和外門控制系統。外門控制系統旨在最大限度地減少空氣條件對搶奪圖像的改變，而樣品控制單元則負責保持樣品的電子發射率均勻，以獲得卓越的圖像清晰度。JSM 6320F是一個真正革命性的SEM,它提供了顯著的成像可能性。它具有雙電子探測器、先進的光學設計和人體工程學標本階段，是原子和納米級成像的理想儀器。它高分辨率的圖像和對材料的準確表示使其成為研究、制造商和行業不可或缺的工具。