二手 JEOL JSM 6320F #9210344 待售

JEOL JSM 6320F是一種用於材料分析的掃描電子顯微鏡（SEM）。它是分析亞微米到宏觀特征的行業標準微觀成像和微觀分析系統。它能夠以高達0.06 nm的分辨率可視化樣品的精細特征（如孔和晶界）,並提供統計成像、分析信息和3D建模。JSM 6320F配備了電子光學和先進的探測器，使用戶能夠達到最大的分析性能。6320F的成像能力可用於分析晶粒尺寸和方向、表面粗糙度、顯微鏡以及更多應用。利用環形視場SEM成像,JEOL JSM 6320F提供了大景深、高分辨率圖像和增強視野的組合。6320F的分析能力包括能量色散X射線光譜（EDS），它允許用戶分析樣品的元素組成。此外，JSM 6320F的高真空和低壓電子環境提供了樣品的高質量圖像，而無需大量的樣品制備。JEOL JSM 6320F適用於冶金、汽車、電子、食品等多種行業。該6320F為用戶提供了Windows XP和Windows Vista操作系統支持的簡單操作。該6320F最多可容納2個樣品和5個探測器，使用戶可以分析各種樣品類型。綜上所述，JSM 6320F是用於材料分析的行業標準掃描電子顯微鏡。它能夠以高達0.06 nm的分辨率可視化樣品的精細特征,並提供統計成像、分析信息和3D建模。該6320F為用戶提供了一個簡單的操作和分析各種樣本類型的能力。這種顯微鏡適用於廣泛的行業，使其成為材料分析的有力工具。