二手 JEOL JSM 6320F #9232338 待售

JEOL JSM 6320F
製造商
JEOL
模型
JSM 6320F
ID: 9232338
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6320F是一種場發射掃描電子顯微鏡,可用於多種樣品的高分辨率成像。它配備了高效的野外發射槍(FEG)和數字柱內探測器進行成像,全面的控制範圍允許精確的掃描和成像。JSM 6320F能夠生成分辨率高達2.5 nm的高度詳細的圖像,而可變壓力系統允許以最小或無樣品制備的方式觀察非導電樣品。JEOL JSM 6320F具有1 kV至30 kV的加速電壓,即使在高放大倍數下也能產生具有低噪聲成像的穩定且均勻的光束。顯微鏡的柱內能量色散光譜儀(EDS)允許探測和分析光元素,而自動導航系統引導用戶通過標本對準。自動功能(如傾斜穩定和圖像縫合)減少了對樣品進行完全表征所需的時間。JSM 6320F具有獨特的設計,包括靈活、光線充足的光柱和符合人體工程學設計的空氣平衡級,可確保精確導航並有助於防止樣品漂移。易於定制的成像配置允許在一系列材料中以不同的放大倍數生成詳細的圖像。此外,顯微鏡非常適合微觀分析、鑄板分析、微創和粒徑分析等應用。JEOL JSM 6320F是一種綜合性工具,旨在實現對各種樣品的高分辨率成像。利用在現場發射技術和綜合成像功能方面的先進投資,顯微鏡為用戶提供了無與倫比的分辨率和控制,以高效分析樣品。
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