二手 JEOL JSM 6320FZ #9386490 待售

JEOL JSM 6320FZ是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），具有豐富的強大和多用途的功能。其特點是具有優異的低真空性能，具有現場排放源能力和增強的分析能力。JSM 6320FZ的第一個顯著特點是其現場排放源能力。這使得顯微鏡可以在低真空條件下工作，減少樣品損壞的可能性。現場發射源還提供了高度的穩定性和精確的控制，確保最大分辨率和圖像性能。JEOL JSM 6320FZ還安裝了快速、高分辨率的數字成像設備，使研究人員能夠以最小的失真獲取樣品的高分辨率圖像。該系統結合了二次電子和反向散射電子探測器，以增強圖像對比度和細節。它具有創新的STEM成像單元,可提供卓越的分辨率以及增強的成像對比度和細節。此外，JSM 6320FZ配備了先進的分析能力，包括能量色散X射線光譜（EDS）和電子反向散射衍射（EBSD）。這些技術使研究人員能夠識別和分析樣品的元素組成和晶體學結構。JEOL JSM 6320FZ包括超高真空級，為提高電子束性能提供卓越的加速電壓穩定性。此外，JSM 6320FZ采用先進的樣品移動機設計，能夠快速、準確地定位樣品，進行最佳成像和分析。它包括各種電動舞臺選項,以及傾斜、對齊和放大的自動微調。總體而言，JEOL JSM 6320FZ是一種高性能掃描電子顯微鏡，具有一套特性和分析能力。它提供出色的現場排放源能力，確保高分辨率圖像和最小化樣品損壞。JSM 6320FZ具有超高真空級、高級成像和分析選項以及自動微調功能,是顯微鏡研究人員的強大工具。