二手 JEOL JSM 6330F #293664772 待售

JEOL JSM 6330F是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），提供納米分辨率、0.1-2.0 keV之間的能量分辨率以及0.14 nm分辨率的低閾值檢測能力等高端特性。這允許對納米尺度的結構進行表征，並允許對極薄的標本進行可靠的成像。JEOL JSM-6330F提供了高達200 nm厚度的樣品的高分辨率成像,最小特征尺寸為0.5 nm。這種高靈敏度得到了Everhart-Thornley和可變壓力模式的摻入的進一步支持，這些模式是對弱吸收樣品和真空敏感材料成像的理想選擇。SEM配備了一系列探測器，包括反向散射電子和二次電子探測器，使得能夠在一個很小的區域內觀測地形和組成信息。這允許物體的無與倫比的細節太小，無法用光學顯微鏡看到。JSM 6330 F還能夠獲取高度敏感的X射線元素圖，從而能夠量化樣品中包含的各種元素。此外，微分析系統還包括一個波長色散光譜單元，該單元可精確地確定樣品的元素組成，可達30 μ m。為了獲得卓越的性能,系統采用了超穩定的機械柱,旨在最大程度地減少舞臺漂移和振動,以確保精確運行。集成數字成像系統進一步提高了SEM的整體可靠性，為分析材料以及圖像捕捉和存儲提供了支持。最後，JEOL JSM 6330 F包含用戶友好軟件，旨在通過提供預編程設置和自動化功能方便操作。這允許高效的工作流,從而能夠在單個過程中快速進行樣本準備和分析。綜上所述，JSM 6330F是一種特殊的掃描電子顯微鏡，在獲取圖像和數據時提供顯著提高的性能和可靠性。這使得它非常適合從基礎科學研究到工業環境中的材料分析等多種應用。