二手 JEOL JSM 6330F #9041540 待售

JEOL JSM 6330F是一種桌面式掃描電子顯微鏡，用於研究各種材料的微觀結構或表面特征。該儀器利用電子束產生的二次電子，該電子束聚焦在試樣表面上，以產生圖像或分析材料的表面地形、組成或其他物理特性。JEOL JSM-6330F在高真空或低真空模式下運行,放大倍數可達32,000倍。JSM 6330 F的低真空模式允許在沒有金屬塗層的情況下制備非導電試樣，如碳。這種模式還支持高導電材料的低真空成像，例如金。高真空模式提供了更短的工作距離，允許更大的工作區域和更精細的斑點大小。JSM-6330F能夠成像為真色或假色。True color SEM允許以其自然顏色掃描樣本,而false color SEM消除了任何顏色差異,因此圖像完全以灰色陰影生成。JEOL JSM 6330 F配備了Everhart-Thornley二次電子檢測器，以改善信噪比以及其他組件，如冷凍級、級加熱和冷卻級、可變壓力級以及樣品掃描自動化能力。附加的軟件非常方便用戶,包括一系列附加功能,如粒度映射、圖像編輯、圖像處理和定量分析。JSM 6330F是一種健壯、通用的SEM,非常適合查看和分析細小的特征,如微觀斷裂或微小的表面基體復合材料。E-T探測器的加入允許更大的探測器覆蓋範圍、更高的檢測效率和更好的信噪比。JEOL JSM 6330F具有可自定義的軟件選項和廣泛的附件,是一種功能強大但價格合理的桌面掃描電子顯微鏡,用於研究學術和工業環境中的各種材料。