二手 JEOL JSM 6330F #9071903 待售

JEOL JSM 6330F掃描電子顯微鏡（SEM）是對各種物體進行詳細分析的通用工具。強大的多功能成像系統為各種樣品類型提供出色的分辨率和高對比度。它緊湊的尺寸和輕巧的設計使得它受到各種規模的實驗室的歡迎。JEOL JSM-6330F提供了多種成像技術，包括反向散射電子成像、二次電子成像、BSE彩色復合成像和STEM（掃描透射電子顯微鏡）。它還包括一個可變聚焦、一個專用的二次電子探測器和一個有效的列內能量濾波器。使用高功率逆變器，顯微鏡可以操作從15倍到200,000x以上的全範圍放大率。JSM 6330 F由於其6軸電動樣本架，可以處理範圍廣泛的樣本類型，並提供精確的自動化樣品準備和掃描。除了成像能力外，JSM-6330F還配備了三個先進的分析系統，能夠進行復雜的分析，如EDS（能量色散光譜）、WDS（波長色散光譜）和EDX（能量色散X射線光譜）。這些系統允許對任何樣品進行元素或組成分析。JEOL JSM 6330 F提供卓越的成像質量以及各種先進的分析能力。它強大的掃描和成像功能幫助用戶獲得高分辨率圖像和高度準確的分析結果。它是需要可靠和通用SEM的各領域研究人員和科學家的理想工具。