二手 JEOL JSM 6330F #9131143 待售

JEOL JSM 6330F是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。它設計用於從表征小粒子到納米級成像的一系列應用。這個SEM提供了幾個有利的特點，包括一個集成的迷你柱設計，一個大的標本室，和一個扁平的標本階段。65kV的微型柱設計允許精確的光束定位和圖像質量。它允許在大面積上精確的光束定位，提供高分辨率的成像。這種SEM的分辨率在反向散射電子探測器上高達1.2納米。圖像放大倍率為0.3倍至300倍，分辨率為0.8納米。大標本室可以容納各種尺寸和構型的各種標本。這樣就可以進行高效和一致的分析。SEM的階段可以容納高達100毫米大小的標本，從而實現了廣泛的研究場景。JEOL JSM-6330F還允許高速自動成像。它能夠在一次圖像掃描中掃描多達5個不同的標本場。這對於需要多次掃描的研究或大面積的分析特別有用。這個SEM配備了幾個探測器，用於收集各種類型的數據。其中包括二次電子探測器、反向散射電子探測器、低能電子探測器和能量色散光譜儀探測器。每種類型的探測器都提供不同種類的數據，這些數據可用於獲取有關樣本的更多信息。JSM 6330 F是納米技術領域工作的最佳工具。它具有很高的分辨率以及自動成像能力，使研究人員能夠研究納米級的樣品。這使得研究人員能夠在納米級上獲得對材料結構和組成的寶貴見解。總體而言，JEOL JSM 6330 F是一種先進的掃描電子顯微鏡，提供了一系列的好處。它具有高分辨率成像、自動化成像、多探測器和大型標本室的能力。這使得它成為納米級研究和應用的理想工具。