二手 JEOL JSM 6330F #9164163 待售

JEOL JSM 6330F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），能夠產生各種表面的高分辨率圖像，分辨率低至50納米。它的電子束成像系統配備了一個超高分辨率二次電子檢測器，能夠以10位（1024強度水平）對比度成像，從而能夠詳細分析樣品在整個樣品中的細微特征。這種儀器能夠使用廣泛的分析技術，從定向成像顯微鏡（OIM）、陰極光學顯微鏡（COM）和偶數傅立葉變換成像（EFTEM）。JEOL JSM-6330F配備了最先進的真空系統，泵送速度為20m3/hr。該真空系統提供10-6 mbar至10-2 mbar的壓力範圍，確保條件適合二次電子探測器和低能電子的操作。JSM 6330 F可以在不加熱樣品表面（冷級或熱噴霧附件）的情況下操作，也可以使用可達到650°C溫度的可選加熱元件進行操作。JSM 6330F可以使用一系列分析技術進行編程。其能量色散X射線光譜（EDX）功能提供了一系列分析功能,包括元素映射、粒子成像和深度剖析等。粒子誘導X射線發射（PIXE）特性允許對具有高空間分辨率和靈敏度的樣品進行非破壞性元素分析。二次電子顯微鏡（SEM）模式的JSM-6330F特別適用於成像配體處理結構和分子。其自動柱頭功能提供了極低的圖像像差,允許檢測到納米級以下的特征。經過能量過濾的成像模式能夠分析細小的表面特征,例如分辨率低至50 nm的晶體結構。JEOL JSM 6330 F也可以在可變壓力模式（VP）下操作，允許在傳統的掃描電子顯微鏡（SEM）中成像可能因電子轟擊而損壞的非導電樣品。VP模式可以在10-1 mbar的大氣層中執行,並提供獨特的成像環境,即使在低至10nm的分辨率下也可以觀察到非導電樣品。最後,JEOL JSM 6330F配備了高級圖像處理套件,提供增強的樣本分析選項。圖像處理軟件允許自動圖像分析、定量圖像分析、3D重建以及其他類型的自動分析。它還允許以快速的重建速度對樣品進行交互分析。總體而言,JEOL JSM-6330F是一個功能極其強大且用途廣泛的SEM,能夠以極高的分辨率生成高質量的圖像,並具有多種分析功能。其先進的真空、加熱和圖像處理系統使其成為對儀器需求最大的研究人員的首要顯微鏡選擇。