二手 JEOL JSM 6330F #9258244 待售

JEOL JSM 6330F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），利用電子柱技術，適應包括圖像分析、元素或化學分析工作、三維表面剖面圖等多種技術。它設計用於納米尺度成像和表面分析，圖像分辨率高達1 nm。電子柱是一個強大的三場發射源，有兩個槍柱和一個單獨的電子光學柱。這允許以變化的光束能量進行高速掃描，這是產生高質量圖像以及進行化學分析和測量所必需的。SEM具有高分辨率CCD攝像機和可變強度探測器,用於捕捉SEM圖像。顯微鏡還配備了廣泛的分析和成像能力。其中包括可用於識別構成樣品的不同元素的反向散射電子（BSE）成像，以及能夠檢測和測量樣品化學成分的X射線和能量色散光譜（EDS）分析技術。此外，JEOL JSM-6330F還配備了計算機控制的舞臺系統，可以在成像過程中對標本進行精確的自動化和手動移動。軟件還包括參數設置、圖像采集和分析的自動功能,以及圖像對比度和亮度的自動調整。顯微鏡還包括先進的3D模型構建能力，可用於創建樣品的詳細3D模型。模型構建軟件為用戶提供了快速創建高分辨率3D模型的界面。然後,3D模型可用於可視化樣本以及進一步分析。總而言之，JSM 6330 F SEM是一種用於納米尺度特征成像和分析的強大工具。它具有廣泛的成像和分析功能,包括高級圖像處理和3D建模功能,使其成為研究納米材料的研究人員的理想工具。