二手 JEOL JSM 6335F #293609259 待售

JEOL JSM 6335F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於成像樣品和測量表面地形。它是一種配備了冷場發射槍（Cold Field Emission Gun，Cold FEG）的現場發射SEM（FE-SEM），用於優化樣品成像和充電。這允許了更高的電子束電流，改進的分辨率，以及在訪問各種類型的樣品材料時更大的靈活性。JSM 6335F配備了可變壓力超高真空掃描電子柱，提供0.1至0.09 Pa的可變壓力範圍，這套導航系統在10 mm的客觀距離上提供了0.05 um精度的卓越導航性能。SEM還具有數字信號處理器（DSP）控制的自動偏轉功能,使用戶能夠解決復雜且具有挑戰性的樣本分析方案。這個SEM設計有幾個分析特點，包括元素和化學分析，X射線成像和制圖，電子和光子誘導的二次電子成像，以及X射線能量色散光譜（XEDS）。此外,該SEM還配備了一整套分析工具,包括反向散射電子衍射（BSED）、高分辨率反向散射電子（HRBE）成像、用於紋理分析的極點圖形成像（PFI）和低壓反向散射電子（LVBE）成像。JEOL JSM 6335F與從薄膜結構到幹燥生物標本的各種樣品架兼容，以及不同幾何形狀和大小的各種樣品。此外,SEM還包括一個亮場檢測器（BF）、暗場檢測器（DF）和一個長工作距離（LWD）檢測器,可以在長達4毫米的距離上對樣品進行成像。JSM 6335F SEM具有300 × 300 mm的工作室,可處理直徑可達180 mm的樣品尺寸。JEOL JSM 6335F是一種可靠高效的SEM,可為用戶提供準確、詳細的圖像。6335F的總體設計提供了靈活性和卓越的成像功能,使其成為各種應用（從研究到工業設置）的理想SEM。