二手 JEOL JSM 6335F #293632500 待售

製造商
JEOL
模型
JSM 6335F
ID: 293632500
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6335F是一種高性能掃描電子顯微鏡(SEM),具有最先進的功能,為實驗室研究人員提供強大的成像和分析能力。這個功能強大的SEM是高度通用的,允許廣泛的標本進行研究和分析。JSM 6335F具有直徑約200毫米、深度約200毫米的大型工作室,允許研究大型和復雜的樣品。最大加速度電壓為30kV,可以對200毫米大小的樣品成像。標準試樣臺可容納250千克,可選擇冷級固定架和冷卻級進行低溫試樣調查。JEOL JSM 6335F還配備了SEM鏡頭設備,高分辨率視野高達10nm。這種透鏡系統提供了巨大的圖像對比度和清晰度,在導電和非導電樣品中產生小特征的詳細圖像。該儀器還有一個反向散射電子探測器(BSD),在調查非導電樣品時能夠改進對比度成像。JSM 6335F電壓控制和噴槍裝置能夠對加速電壓、探頭電流和亮度進行非常精細的調整。該機器還具有先進的能量過濾功能,可用於分析樣品薄層中的成分元素。JEOL JSM 6335F附帶了一套軟件工具,可幫助獲取、分析和存儲數據。此軟件包括高級成像、檢測和量化功能,以實現無與倫比的樣品評估細節級別。所有獲取的數據都可以存儲,以便將來進行分析。JSM 6335F是任何實驗室或研究機構尋找功能廣泛、功能強大的SEM的理想儀器。它的高級功能提供了增強的成像和分析功能,從而提供了最高質量的數據和最準確的結果。
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