二手 JEOL JSM 6335F #293671409 待售

JEOL JSM 6335F
製造商
JEOL
模型
JSM 6335F
ID: 293671409
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM).
JEOL JSM 6335F是一種桌面掃描電子顯微鏡(SEM),結合了緊湊的設計和先進的成像能力。利用熱電子場發射槍(TFEG)柱,提供高分辨率的高品質影像。這種SEM可用於各種材料,從絕緣到導電樣品。它利用兩個陰極的5通道輸入級和一個雙軸自動對焦設備來達到高水平的性能。該SEM還具有高分辨率電子探測器、低噪聲電源和充氮壓力室,以提高圖像質量。SEM的數字信號處理器允許增強圖像形成和降噪算法,減少信號和隨機噪聲之間的歧義,並提供清晰的圖像。JEOL 6335F還有一個數字加載程序,允許使用自動工作流查看預覽圖像。該設備的軟件包括自動圖像旋轉、對比度調整、鏡像成像、尺寸測量、線條選擇等多種圖像處理功能。它還具有自動測量功能,使操作員能夠獲得有關樣品大小和形狀的信息。JEOL 6335F SEM具有低應力檢測系統,可提供高水平的圖像優化。該單元還使停留時間和能量的自動調整能夠給用戶一致的結果。該機具有與多種應用目的兼容的樣板支架、階段、目標等多種配件,適合於多種研究目的。SEM還設計了一個用戶友好的界面,可以方便地獲取信息。總體而言,JSM 6335F是一種可靠、精確的掃描電子顯微鏡,具有出色的圖像質量和廣泛的功能。其可靠的性能、緊湊的設計和用戶友好的特性使其成為各種材料研究應用的理想選擇。
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