二手 JEOL JSM 6335F #293744719 待售

JEOL JSM 6335F是一種高分辨率的分析掃描電子成像系統，能夠對各種有機和無機材料的表面和內部結構進行詳細分析。這種Benchtop SEM設備配備了一個大腔室，為技術人員提供了一個充足的工作空間來處理和觀察樣品。與以前的型號相比,其EverHigh X射線源提供了更高的穩定性和可靠性。JSM 6335F標配鏡頭內二次電子探測器和能夠檢測廣角粒子的高端反向散射探測器。二次電子探測器使用戶能夠非常詳細地捕捉標本的地形表面特征，而反向散射探測器則允許分析標本組成和嵌入結構的橫截面成像。SEM還具有聚焦離子束（FIB）掃描/掃描透射電子顯微鏡（STEM），允許對包括軟組織在內的生物標本進行精細成像。這種FIB掃描系統具有特殊的第三代列設計，在精度、分辨率和放大倍率方面提高了性能。集成的能量色散X射線光譜儀允許分析樣品的元素組成，從而最大限度地表征材料的構成。JEOL JSM 6335F專為快速可靠的圖像捕獲而設計；能夠在不到5秒的時間內捕獲2D圖像,並在不到10分鐘的時間內捕獲單次拍攝的3D圖像。該設備極其人性化，配有觸摸屏控制面板、直觀的圖形用戶界面以及手寫識別等有用功能。此外,強大的工具（如Autostage功能）使示例定位和處理能夠在沒有用戶幹預的情況下盡快完成。最後，JSM 6335F的應用程序庫使得該設備適用於從冶金和陶瓷到化學和半導體和納米技術的廣泛應用。其廣泛的功能使其成為微量和納米標本成像和分析的理想選擇。