二手 JEOL JSM 6335F #293744948 待售

JEOL JSM 6335F是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料科學、環境分析、法醫學、半導體和電子器件分析、生物應用等各個學科的多種分析成像和光譜學用途。JSM 6335F具有一個包含鎢絲的野外發射槍，可以在三種不同的加速電壓下操作：0.2 kV、1.0 kV和15.0 kV。高功率電子光學器件在極低的光束能量下提供出色的分辨率和高對比度。另外，電透鏡電流控制器能夠對光束軌跡進行非常精確的操縱和失真校正。6335F的最大掃描面積為30 x 30毫米。JEOL JSM 6335F提供多種成像模式，如二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BEI）和使用高速能量色散X射線（EDX）探測器的X射線光譜成像（XSI）。能量色散X射線光譜（EDS）設備讓用戶識別元素，快速分析元素的空間分布，甚至在大面積收集廣泛的光譜。這個分析性的SEM也可以配備各種配件，取決於用戶的應用。Argus激光陰極發光系統可用於大面積圖像的地理參考和縫合，可用於非導電材料的成像。輝光放電裝置能夠產生高達1.5 mA的電流，適用於測量金屬和半導體表面反應的分子量和動力驅動力。該SEM旨在滿足現場排放技術的需求。低束電壓有助於降低樣品充電效果，並最大限度地減少二次電子產生。工作距離長，加上熱電子抑制，甚至可以成像非導電材料。減少失真的檢測器機器有助於解釋舞臺的運動，以確保對樣品的可靠、不失真的概述。JSM 6335F是一個功能強大的SEM,為用戶提供樣本曲面和元素分布的高分辨率圖像。該儀器是分析微量和納米級材料的寶貴設備。