二手 JEOL JSM 6360LV #293819522 待售

JEOL JSM 6360LV
製造商
JEOL
模型
JSM 6360LV
ID: 293819522
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6360LV是一種掃描電子顯微鏡(SEM),它結合了高性能和各種應用的經濟性。SEM能夠產生最小光束直徑為0.8 nm的高對比度、高分辨率特征圖像。JSM 6360LV利用了一系列掃描模式,包括掃描透射電子顯微鏡(STEM)和能量色散X射線(EDX),並提供了具有亞納米分辨率的高達30千伏的加速電壓範圍。該6360LV采用JEOL著名的DualBeam™技術,允許用戶同時執行聚焦離子束(FIB)和二次電子成像(SEI)。這些技術的結合使用戶能夠同時進行成像和微銑削,從而提供對樣品結構和組成的寶貴洞察。該6360LV還具有微機械後焦距調整功能,可對各種樣品進行高分辨率成像。此外,顯微鏡還配備了一個通用樣品級(GSS),以滿足各種樣品要求,例如高精度校正。該模型還具有可變壓力FE-SEM,可以對易碎或細膩樣品進行高分辨率成像。可變壓力通過獨立控制指定腔室壓力實現,允許在可變條件下對樣品進行成像。圖像和信號處理部分包括提高圖像分辨率的信噪比和峰值背景。6360LV還配備了可選的完全集成數字信號處理器(DSP),包括專用軟件,使精確、可重現的成像和測量更易於控制和維護。由於先進的數字信號處理系統有助於降低噪聲,從而提高了掃描數據質量,因此數據采集得到了改進。總體而言,JEOL JSM 6360LV是一種價格合理且可靠的儀器,能夠產生詳細的圖像。這種模式因其先進的特性和加工能力範圍廣泛,適合一系列行業,從材料科學到生命科學。顯微鏡在單個設備中結合了多種功能,提高了測試效率,提供了通用的SEM系統。
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