二手 JEOL JSM 6360LV #9373179 待售
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ID: 9373179
優質的: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM)
61090 2-Axis motor stage
Maximum specimen size, 6" (80 x 40 mm)
34470 Backscatter electron detector
Operation keyboard
LGSHL Solvent holder
CRT Monitor
65020 PRD2 Photography
65040 CSI2 Scan image photography
Operation keyboard
49020 Chiller
47414 PC:
(2) USB Ports
PC Card slot
2004 vintage.
JEOL JSM 6300LV掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於成像、元素分析和X射線微分析的高分辨率儀器。這種通用的SEM可實現低真空和高真空操作,並具有1-15 keV的獨特低壓能力,便於在二次和反向散射電子成像模式下觀察損害最小的樣品。儀器細節包括5 nm點收斂角、25 kV場發射電子源、20 W小點直徑低至0.3 μ m、5W K β X射線源、三軸X/Y/Z級、2.5-5 kW峰值功率和15 keV運行。該JSM 6300LV提供高分辨率成像，元素分析和X射線微觀分析的各種樣品。二次電子整體放大1000倍的理論分辨率為0.8 nm，使得各種樣品的亞微米成像成為可能。這個SEM還包括一個同時成像和光譜的檢測系統，它保證了快速的數據采集。電子探測器支持頂部和底部成像，並包括一個用於非導電樣品成像的5keV BSE探測器。另一個安裝在光軸上的電子檢測器通過將檢測器的靈敏度從5 keV提高到15 keV來改善反向散射電子成像。SEM還能夠成像極低電流的樣品，包括固體、液體甚至氣態樣品。現場排放源還確保穩定和一致的可重復性能。先進的成像系統包括多種監控功能。這使操作員能夠在多個成像配置之間切換,從而能夠對更廣泛的樣本進行調查。JEOL JSM 6300LV有一個很大的工作區域可供各種樣本量使用。它還提供了可調的腔室形狀，使其適合用於各種工作設施和任務。此外，該儀器還配備了強大的導航和圖像處理軟件，能夠進行復雜的分析和創建報告。JSM 6300LV是用於半導體研究、生命科學、環境科學、地球科學和材料科學等各種研究領域的寶貴工具，僅舉幾例。JSM 6300LV的特點廣泛，工作電壓低，是成像、元素分析和X射線微觀分析的理想儀器。
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