二手 JEOL JSM 6380 #9086904 待售
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
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JEOL JSM 6380是一種使用鎢絲電子槍操作的掃描電子顯微鏡,空間分辨率為0.25nm。它包含一個具有5個自由度和廣泛檢測範圍的雙傾斜樣品支架。它能夠進行二維成像、能量色散和波長色散X射線分析以及特定於元素的成像。JSM 6380采用的高性能鎢絲電子槍,將空間分辨率提高到0.25nm,達到最大性能。該系統還具有200-300nA和工作距離為600mm至1500 mm的光束電流。可調加速電壓也可以設置為30kV,允許廣泛的應用,包括低壓成像。創新的雙傾樣架配備了最高5個自由度,包括實用的樣品裝卸系統。這允許用戶將樣品移到相對於電子束的最佳位置,提高圖像對比度和分辨率。雙傾斜式樣品支架還可以在用於TEM或STEM應用的樣品定位方面提供更大的靈活性和安全性。這種支架也與一系列樣品材料兼容,可以使用退火或冷改性階段。JEOL JSM 6380能夠執行廣泛的檢測,包括分析映射、能量色散和波長色散X射線分析以及特定於元素的成像。分析映射可用於量化樣品的元素組成,而能量色散X射線分析可用於識別分析區域中存在哪些元素。波長色散X射線分析可用於確定樣品的化學性質,而元素特異性成像則有助於破譯樣品的原子結構和組成。總體而言,JSM 6380是一種先進的掃描電子顯微鏡,具有廣泛的功能。其高性能鎢絲電子槍提供0.25nm的分辨率,而其雙傾斜樣品架則允許最多5個自由度。它還能夠進行一系列檢測,以及元素特異性成像,使其成為材料研究的絕佳選擇。
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