二手 JEOL JSM 6380LA #293671420 待售

JEOL JSM 6380LA
製造商
JEOL
模型
JSM 6380LA
ID: 293671420
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 6380LA掃描電子顯微鏡(SEM)是一種高性能儀器,設計用於多功能成像,以及EDXA(能量色散X射線分析)和WDS(波長色散光譜)元素分析。它為各種樣品應用程序提供高分辨率成像和易於操作。設備的可變壓力操作允許研究各種樣品,而無需輔助抽水系統,同時提供高對比度圖像。SEM采用可變放大倍數和圖像旋轉的數字6.4英寸成像單元。它提供了從11倍到500,000倍的放大倍率範圍,並增強了景深和卓越的圖像對比度。8 kV(千伏)野外發射槍(FEG)與傳統鎢槍相比提供了大大提高的亮度和分辨率能力,同時具有更大的動態二次電子圖像範圍來分析非導電樣品。它還配備了一個光探測器屏幕,允許對表面電導率非常低甚至為零的樣品進行快速和容易的成像。EDXA和WDS系統是儀器的一個組成部分,為樣品提供快速準確的化學成分測定。采用四型SDD (Silicon Drift Detector)和斜型EDXA (Energy Dispersive X-Raid Analysis)兩種方法,提高了分析的準確性和可靠性。WDS提供輕元素從C到U (Cobalt to Uranium)的元素分析。使用SEM機可以實現多元素分析,最多36個帶有分隔窗口的元素。JSM 6380LA提供了一個功能強大的綜合成像工具,並具有高精度和可靠性。它為進行高分辨率成像或元素分析的用戶提供了廣泛的應用。SEM是擴大研究活動的理想選擇。
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