二手 JEOL JSM 6390LA #293609260 待售
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ID: 293609260
優質的: 2006
Analytical Scanning Electron Microscope (SEM)
With Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS/EDX)
EDX Detector non-functional
2006 vintage.
JEOL JSM 6390LA是專門設計用於半導體故障分析和過程控制應用的掃描電子顯微鏡（SEM）。它是一種可變壓力掃描電子顯微鏡（VP-SEM），提供優於傳統SEM的成像能力。VP-SEM電子柱允許廣泛的操作條件，從而導致更高的探測深度和更幹凈的圖像，而無需樣品充電。基礎設備配備了冷FEG炮和場發射電子源，提供了出色的相幹性能和束穩定性。該槍采用雙鏡頭光學系統設計，可提高圖像的亮度和分辨率。自動調諧電子柱允許簡單的操作和用戶定義的技術來獲得最佳結果。JSM 6390LA采用高分辨率的低真空SE檢測器,可提高1.3 nm的分辨率和高達10 keV的檢測極限。集成分辨率校準單元提供了一種可靠、精確的分析樣品到納米級的方法。此外，顯微鏡還包括一個先進的BackScatter電子探測器（BSE）和一個二次電子探測器（SE），以進一步增強成像能力。在操作方面，JEOL JSM 6390LA提供了易於使用的用戶界面和可選的自動或動手控制所有功能。SEM可以手動操作,也可以使用內置電源按鈕打開和關閉電源。其他有用的功能包括導航器、視頻監視器和在對準和校準過程中引導用戶的照明標線。為了提高安全性和安全性，JSM 6390LA還提供了防電磁幹擾、電磁屏蔽和防靜電塗層等多種用戶保護措施。此外，該機器還包括內部和外部光束消隱成像功能，以防止電子照射對樣品造成損害。總體而言，JEOL JSM 6390LA是一種世界級的掃描電子顯微鏡，為半導體故障分析和過程控制提供卓越的圖像質量、分辨率和檢測能力。JSM 6390LA具有易於使用的控件、出色的優化功能以及先進的安全和安保措施,是尋求利用SEM技術諸多優勢的用戶的理想選擇。
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