二手 JEOL JSM 6390LV #293637307 待售

JEOL JSM 6390LV掃描電子顯微鏡（SEM）是研究微觀結構和表面的一種功能強大且用途廣泛的研究工具。這種高分辨率SEM在1 kV的加速電壓下具有1 nm的精細空間分辨率，在15 kV下具有0.5 nm的橫向分辨率。它還具有高達30毫米的大視場（FOV）,並且能夠在高達1000 cm2的樣本區域上成像。JSM 6390LV使用電子束生成樣品橫截面形態的圖像。這種光束是通過透鏡系統形成的，該系統由兩個冷凝器透鏡和一個物鏡組成。冷凝器透鏡將光束聚焦到樣品上，物鏡用來收集初級電子束產生的反向散射或二次電子。這些電子隨後被探測到並轉換成數字信號。JEOL JSM 6390LV可以在2 x 10-4至5 x 10-7 Torr的真空室壓力範圍內操作。這個壓力範圍允許高分辨率和高靈敏度成像。這種顯微鏡的高速圖像采集特征允許在不到一秒的時間內獲取多個圖像。該顯微鏡可用於多種應用，包括測量表面粗糙度和地形，研究材料性質，分析元素組成和分布。也可用於分析樣品中的晶界、孔隙度和缺陷。JSM的高分辨率成像能力6390LV使其成為納米技術、材料科學和生物科學領域研究的理想工具。憑借直觀的用戶界面和先進的映像功能，它可以在工業和學術環境中使用。有了合適的附件，JEOL JSM 6390LV甚至可以用於故障分析、缺陷掃描等高速應用。