二手 JEOL JSM 6390LV #293647290 待售
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ID: 293647290
優質的: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM)
GATAN Alto 2100 Cryo chamber
Resolution: 3.0µm at 30kV and 15µm at 1kV
Accelerating voltage range: 0.5kV-30kV
Magnification range: 5x - 300,00x
Imaging modes:
Secondary Electron (SE)
Back Scattered Electron (BSE)
Specimen size: 150mm x 45mm
Specimen stage: Eucentric stage axis motorization
Automated filament heating and alignment
2006 vintage.
JEOL JSM 6390LV是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於一系列具有挑戰性的應用，從材料表征到成像各種樣品。它是我們最新一代的LV系列,將突破性的創新與先進的成像和分析能力相結合。JSM 6390LV使用增強了一系列功能的高分辨率成像系統,允許用戶以極好的清晰度探索樣本。此外，其更新的Digital Peltier階段允許用戶在-50攝氏度至+500攝氏度的溫度範圍內掃描樣品；允許在最極端的條件下進一步檢查具有復雜納米特性的樣品。對於峰值分辨率和精度，JEOL JSM 6390LV采用0.5-30kV的可變波束電壓和0.5-30kV的加速度電壓。這允許從x 1,000到x 400,000的有效放大範圍,使用戶可以深入了解其樣本的結構。這也使得不受振動等環境因素影響的漂移達到令人印象深刻的最小化，以確保可靠和可重復的結果。JSM 6390LV也由兩個平行探測器組成；二次電子探測器（SED）和反向散射電子探測器（BSD）。通過使用這些專有的檢測器，用戶可以獲得關於其樣本的各級信息。角度提取允許通過SED改進曲面細節,而BSD則使用一系列分析模式更深入地了解樣品的元素組成。該模型還具有集成的顯微顯微鏡，允許用戶在SEM和顯微顯微鏡之間輕松切換，而不會幹擾樣品。此通用工具是一項寶貴的資產,因為它允許用戶使用一個設置進行多次實驗,從而節省了寶貴的時間和資源。JEOL JSM 6390LV是任何實驗室進行表面分析實驗的理想儀器.它具有多種多樣的功能、先進的特性和方便用戶的控制功能,使其成為任何表面檢查、缺陷分析或材料表征研究實驗室所必需的。
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