二手 JEOL JSM 6390LV #293810359 待售
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ID: 293810359
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
HV mode 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV)
LV mode 4.0 nm (30kV)
Magnification:
x8 to x300,000 (at 11kV or higher)
x5 to x300,000 (at 10kV or lower)
Operations:
Optics
Specimen stage
Image mode
LV Pressure
Standard recipe
Image mode:
Secondary electron image
Composition
Topography
Shadowed
Objective lens:
3 Stages
X,Y Adjustable
Specimen stage:
Eucentric type
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5mm to 48mm,
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360°
Electron gun
Zoom condenser lens
Super conical objective lens
Stigmator memory
Electrical image shift ±50µm (WD=10 mm)
Motor control: 2 Axes, 3 Axes and 5 Axes
LCD Monitor, 15"
Digital zoom
Dual magnification
Network: Ethernet
Fully automated pumping system
Switching vacuum mode
LV Pressure: 1 to 270 Pa
(2) JED-2300 EDS
Accelerating voltage 0.5 kV to 30 kV
IBM PC
Operating system: Windows XP.
JEOL JSM 6390LV是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料分析和故障分析。它配備了場發射槍（FEG），以產生細聚焦電子束，用於掃描樣品並產生圖像。顯微鏡有多種特性，可以讓使用者得到高分辨率的影像，除了提供一系列的標本準備和分析的選項。JSM 6390LV提供大視野，工作能力從10nm到30µm。FEG具有場曲率補償功能,可提高圖像分辨率。加速度電壓可以從0.9kV調到30kV，提供一系列有目的的應用。顯微鏡還具有增強的信噪比，確保了出色的對比度和相位圖像。此外,JEOL JSM 6390LV還配備了一個能量濾波器,可用於波長色散光譜（WDS）和能量色散光譜（EDS）。JSM 6390LV配有一系列樣品支架，包括鎢尖、碳塗層支架、凹陷樣品支架和透鏡內樣品支架。後者尤其具有6軸電動樣品運動，使使用者能夠在電子束中精確定位樣品。SEM還配備了高真空制備和觀測室，允許原位二次電子成像。為了方便用戶，修改階段、樣本持有者和觀測室都可以通過一個用戶友好、多語言的觸摸屏進行控制。此外，所有顯微鏡數據，包括圖像和存儲的信息，都可以通過網絡進行遠程訪問和可視化，從而允許用戶之間進行協作。綜上所述,JEOL JSM 6390LV是一種功能強大的SEM,它提供高分辨率成像,具有廣泛的應用。它還提供了許多增強用戶便利性的功能,例如遙控觸摸屏界面,使其成為材料和故障分析的理想工具。
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