二手 JEOL JSM 6390LV #9133370 待售

JEOL JSM 6390LV是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料分析和故障分析。它配備了場發射槍（FEG），以產生細聚焦電子束，用於掃描樣品並產生圖像。顯微鏡有多種特性，可以讓使用者得到高分辨率的影像，除了提供一系列的標本準備和分析的選項。JSM 6390LV提供大視野，工作能力從10nm到30µm。FEG具有場曲率補償功能,可提高圖像分辨率。加速度電壓可以從0.9kV調到30kV，提供一系列有目的的應用。顯微鏡還具有增強的信噪比，確保了出色的對比度和相位圖像。此外,JEOL JSM 6390LV還配備了一個能量濾波器,可用於波長色散光譜（WDS）和能量色散光譜（EDS）。JSM 6390LV配有一系列樣品支架，包括鎢尖、碳塗層支架、凹陷樣品支架和透鏡內樣品支架。後者尤其具有6軸電動樣品運動，使使用者能夠在電子束中精確定位樣品。SEM還配備了高真空制備和觀測室，允許原位二次電子成像。為了方便用戶，修改階段、樣本持有者和觀測室都可以通過一個用戶友好、多語言的觸摸屏進行控制。此外，所有顯微鏡數據，包括圖像和存儲的信息，都可以通過網絡進行遠程訪問和可視化，從而允許用戶之間進行協作。綜上所述,JEOL JSM 6390LV是一種功能強大的SEM,它提供高分辨率成像,具有廣泛的應用。它還提供了許多增強用戶便利性的功能,例如遙控觸摸屏界面,使其成為材料和故障分析的理想工具。