二手 JEOL JSM 6390LV #9193088 待售
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ID: 9193088
Scanning electron microscope
Specifications:
Resolution:
HV Mode: 3.0 nm (30kV), 15 nm (1kV)
LV Mode: 4.0 nm (30kV)
Magnification:
8x to 300,000x (at 11kV or higher)
5x to 300,000x (at 10kV or lower)
User operation recipe:
Optics
Specimen stage
Image mode
LV Pressure
Standard recipe
Image mode:
Secondary electron image
Composition
Topography
Shadowed
Accelerating voltage: 0.5 kV to 30 kV
Filament: Factory pre-centered filament
Electron gun:
Fully automated
Manual override
Auto functions:
Focus
Brightness
Contrast
Stigmator
Specimen stage:
Large eucentric type
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5mm to 48mm
Tilt: -10° to +90°
Rotation: 360°
Pumping system:
Fully automated
DP: 1
RP: 1 or 2
Switching vacuum mode: Less than 1 minute
LV Pressure: 1 to 270 Pa
JED-2300 EDS: Built in
Principal options:
Backscattered electron detector
Secondary electron detector for low vacuum
Wave length dispersive X-ray analyzer (WDS)
Specimen exchange airlock chamber
Chamber scope
Operation knobs
Specimen cooling unit
LaB6 electron gun
Report creation software (SMile View)
Operation console (750mm wide, 900mm wide, 1100mm wide)
Computer & peripherals:
HP Z230, CORE E3-1225v3 3.2GHz Processor with 4GB RAM
500GB SATA 1st HDD
16XDVD+/-RW SATA
USB Keyboard & optical mouse
ADAPTEC PCI SCSI 2940AU Host controller
Upgrade: Windows7 OS
19" Flat panel LCD monitor
EDAX EDS Not included
Power:
Single-phase, 100V AC, 50/60Hz
3.0kVA
Voltage regulation within ±10% (voltage drop at 3.0 kVA within 3%).
JEOL JSM 6390LV是一種高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於成像各種材料和標本寬度。它結合了一個大型垂直柱與獨特的世界級野外發射槍（FEG）的高分辨率成像樣品低至0.4納米分辨率。顯微鏡包含各種特征，幫助研究人員充分利用他們的研究成果。其中一些特征包括：成像模式，如反向散射電子（BSE）成像，SEI（二次電子成像），SEVI（二次電子可變強度成像），EDX（能量色散X射線光譜），WDS（波長色散X射線光譜），和EBSD（電子作用反向光譜）。顯微鏡裝有一個大的3軸機械手，用戶可以在SEM成像時快速、精確地操縱樣品。它還配備了自動XYZ 4軸機器人標本處理程序，使研究人員能夠自動交換樣本並調整其成像位置。JSM 6390LV還配備了各種環保選項，如低真空低溫SEM、低溫低溫SEM、高達1000 °C的高溫SEM。此外，衍射後散射離子束成像具有高達2 nm的高空間分辨率。這些功能使研究人員能夠針對不同的應用需求擁有全方位的高分辨率成像功能。最後，顯微鏡包括了業界領先的用戶可以控制的Pure ChromView軟件。該軟件使顯微鏡操作方便舒適，並允許用戶在幾分鐘內獲取高分辨率和視頻圖像。總之,JEOL JSM 6390LV為研究人員提供了可靠而強大的SEM系統,該系統提供了廣泛的高分辨率成像功能以及一系列自動化功能。這種顯微鏡可用於各種研究，從材料科學和納米技術到工業過程控制和生物醫學應用。
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