二手 JEOL JSM 6400 #293753986 待售

JEOL JSM 6400是一種掃描電子顯微鏡（SEM），提供具有多種特征的高分辨率成像。該SEM設計用於研究和材料科學應用，允許用戶觀察和分析材料的表面特征和結構特性。JSM 6400具有三種成像模式：二次電子成像、反向散射電子成像和陰極發光成像.在二次電子成像（SEI）中，一束電子束聚焦在樣品表面上，從樣品中發射出來的二次電子被收集並用來形成圖像。在反向散射電子成像（BSEI）中，相同的光束偏離樣品表面，從樣品發射的反向散射電子被收集並用來形成圖像。陰極發光成像（Cathodoluminescence Imaging，CLI）使用較窄的電子束聚焦在樣品表面，激發熒光發射，然後收集形成圖像。JEOL JSM 6400是一個高度敏感的系統，使它能夠檢測到細微的和主要的結構特征到納米尺度。該裝置具有廣闊的視野，能夠對包括生物和地質材料在內的各種樣品進行成像。集成的提取器可確保極低的真空水平，而特殊的電子柱結構則可確保精確的光束定位，從而獲得卓越的圖像質量。此SEM還具有高級導航控制功能,包括自動駕駛儀和導航器功能。這些函數允許運算符在感興趣的區域之間輕松移動，並調整諸如焦點或工作距離和放大倍率等參數。也可以在JSM 6400上進行各種EDX實驗。高端EDX系統可用於內置無窗探測器的設備，允許用戶進行能量色散光譜（EDS）實驗。JEOL JSM 6400還附有一個自動換樣器，讓它在不需要人工幹預的情況下處理多個樣品。這個特性有助於降低實驗成本，因為只需要一個儀器。此SEM還具有一系列其他有用的功能,如自動柱頭、自動樣品對準、可調視場、自動穩定器以及各種成像模式。