二手 JEOL JSM 6400 #293763923 待售

JEOL JSM 6400掃描電子顯微鏡（SEM）是一種通用的分析工具，可以讓研究人員研究材料的納米結構、化學和電子性質。這種高端、多用途的儀器設計成既簡單又準確地產生高分辨率的圖像和數據。JSM 6400以電子槍裝備四槍為特色，包括高效率、尺寸控制的野外發射槍、冷陰極槍和兩把熱輔助槍。該系統旨在提供高分辨率成像能力和廣泛的動態範圍，以準確地表征各種材料的納米級結構細節。為了進一步提高JEOL JSM 6400的EDX分析單元的功能,提供了X-MAXN矽漂移探測器（SDD）選項。該探測器提供高能分辨率，同時改進了信噪比，用於檢測薄樣品中光元素之間的微小差異。SDD提供了優於其他能量色散X射線（EDX）探測器的優勢,因為它提供了更高的計數速率和更短的計數時間。除了電子槍機和EDX探測器提供的成像能力外，JSM 6400還具有離軸紅外（IR）成像探測器。這種探測器使研究人員能夠對含有少量有機物質的樣品進行成像和分析，例如生物分子，以及標準SEM可能看不到的其他特征。為提供更高的靈活性和功能,JEOL JSM 6400配備了多種計算機控制功能。該儀器能夠連接各種附件和自動化功能,例如自動舞臺、自動圖像采集和多樣自動安裝。這些功能使研究人員能夠以更高的精度和速度建立更大的數據集。總體而言,JSM 6400是一種高度通用的高級SEM,適用於各種材料分析應用。它具有高性能電子槍工具、EDX探測器、紅外成像探測器和各種計算機控制的自動化功能,使研究人員能夠對各種樣品類型執行高分辨率、準確的表征。