二手 JEOL JSM 6400 #293776081 待售
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ID: 293776081
Scanning Electron Microscope (SEM)
Diffusion pump
3-Axis motorized stage
Backscatter detector
Secondary Electron (SE)
LaB6 Filament.
JEOL JSM 6400是一種掃描電子顯微鏡(SEM),用於以非常高的分辨率水平分析樣品。它利用二次電子、反向散射電子和某些X射線光譜,允許對正在研究的樣品進行詳細的三維圖像。JSM 6400能夠放大最多x 30,000的物體,並且經常被用來研究生物標本,對於這些標本,高放大倍率和快速成像能力都是可取的。JEOL JSM 6400采用獨特的真空系統將樣品封閉,降低電場強度。這使得顯微鏡能夠以前所未有的精度檢測和分析樣品數據。它配備了許多先進的功能,包括可調節的采樣階段、自動掃描以及為提供最大分辨率和清晰度而設計的鏡頭內檢測器。JSM 6400配備了靈敏探測器,使其能夠以比傳統SEM高得多的分辨率檢測樣品。它可以捕捉到納米尺度的細節。它還提供強大的分析能力,能夠檢測元素組成和結構,以及揭示任何雜質或缺陷的存在。JEOL JSM 6400提供一系列樣品制備和成像技術。它提供自動化和手動的樣品準備,以及一系列的成像和分析模式。掃描模式包括明暗場、二次電子成像和組成元素分析,以及反向散射電子成像。JSM 6400是尋找強大可靠SEM的研究人員的絕佳選擇。其高分辨率和強大的分析能力使其成為用於常規和專門研究目的的理想工具。其廣泛的制備和成像技術允許廣泛的應用,使其成為任何實驗室的寶貴工具。
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